XRD型偏光显微熔点仪是专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料科学而研制。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察记录其融化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。并采用人性化“傻瓜”设计，自动化程度高，操作简单，技术先进，性能优秀，结构新颖可靠。

技术参数：

输入电源：               交流220V ±10﹪  45-60HZ 
热台加热工作电源：       直流24V   1.5A
攻   耗：                75W
温度范围：               室温—400℃
热台外体最高温度：       当热体400℃；室温25℃时≤70℃
热体最大载物重量：       200克
工作方式：               连续
精 度：测量精度：        全范围≤±0.3﹪
系统波动度：             ±1℃
最大升温速度（MAX位）：   室温—100℃≤40秒
可设置最慢升温速度：     36秒/℃，达400℃时间：4小时
可设置升温速度范围：     MAX—36秒/℃
即刻恒温响应时间：       ≤0.01秒
工作台外形尺寸：         Φ110mm ，厚度：12mm
工作台工作面尺寸：       Φ30mm分别有透射光和反射光两种
重 量：                   7.6Kg
外包装尺寸：             360×215×365mm